CRYSTAL GmbH, Berlin, Deutschland, spezialisierter Hersteller von kristallinen Substraten, Wafern und optischen Komponenten.

Standardgröße oder Sonderanfertigung

Präzise Oberflächen und akkurate Orientierungen

Mit ihren anisotropen Eigenschaften bieten Kristalle ein breites Anwendungsspektrum im Forschungs- und Entwicklungsbereich. Substrate für Dünnschichtapplikation oder für Ihre individuelle Anwendung - Wir liefern in höchste Qualität zu einem fairen Preis.


Eigenschaften

Orientierung:

  • (100), (001), (111), (110) für kubische und tetragonale Kristalle
  • (0001), (1102), (1120), (1010) für hexagonale Kristalle

Andere Orientierungen höherer Indizes oder winkelgenaue Verkippungen bezüglich der Hauptachsen auf Anfrage.

Orientierungsgenauigkeit: ± 0.5°, typisch < 0.3°, bessere Toleranz auf Anfrage

Typisches Abmaß:

  • 5 mm x 5 mm, 10 mm x 10 mm, 10 mm x 5 mm, 15 mm x 15 mm
  • 12,7 mm x 12,7 mm, 20 mm x 20 mm, 25 mm x 25 mm, ø1", ø2"

Laterale Toleranz: +0/-0.05 mm

Typische Dicke:

  • 0.5 mm, 1.0 mm, andere Dicke bis zu 0.1 mm auf Anfrage

Vertikale Toleranz: +/- 0.05 mm, bessere Toleranz auf Anfrage

Politur:

  • Ein- und beidseitige Epi-Politur
  • Oberflächenqualität: Kratzerfrei unter 50-facher Vergrößerung
  • Micro-Rauheit (gemessen mit Interferometer Mikroskop)
    (laterale Auflösung: 0.64 µm, vertikale Auflösung: theor. 0.01 nm)
    Rauheit: ( λcut off =0.08 mm)
    Ra: < 0.5 nm
    Rq : < 1.0 nm
  • Rt : < 2.0 nm
  • Rauheitszertifikat mit jeder Lieferung

Optische Polituren auf Kanten- oder Mantelflächen auf Anfrage.


Materialien:

Finden Sie hier das passende Substrat, sortiert in alphabetischer Reihenfolge, nach Verbindung oder nach Anwendung.

Substrat-Anfrage

Wie frage ich an?

How to inquire?

Information

Weitere wichtige Links

Lagerverkauf
Lieferbedingungen

Kontakt

Ihre Ansprechpartner

Kathrin Böhmer
Telefon: 030 / 53 04 25 01
moc.hbmg-latsyrc@remheob.nirhtak

Kathrin Böhmer arbeitet seit 2008 bei CRYSTAL im Vertrieb. Seit Beginn des Jahres 2015 ist sie ihre Ansprechpartnerin für Substrate und Wafer.